功能用途：
PS/MS專用顯微投影薄片觀測儀是將磨制拋光后的地質(zhì)薄片放置到樣品板上進行檢測、觀測、分析，確認是否達到符合研究標準的一種儀器。它可以一次對拋光后的1至15個薄片樣片進行逐步檢測，也可以選擇性地進行偏光下觀測、拍照，并能多人同時進行觀測、討論，保證磨制拋光后的地質(zhì)薄片達到理想狀態(tài)，同時也可以應(yīng)用于教學(xué)、交流、講座。
該儀器操作非常方便，易于掌握，利用數(shù)字化的選擇，每個投影圖像都可以被記錄、儲存、并可以通過互聯(lián)網(wǎng)向有關(guān)人員分發(fā)，方便交流研討。
性能特點
1、與傳統(tǒng)顯微鏡相比，一次可以進行多片地質(zhì)薄片的檢測、觀察、分析、交流工作，確定其磨制拋光樣片是否滿足研究者的要求
2、成像迅速、真實、直觀、易用
3、對于地質(zhì)薄片制樣者與地質(zhì)研究院所、地質(zhì)學(xué)家來說，是傳統(tǒng)偏光顯微鏡非常優(yōu)質(zhì)替代品
4、投影圖像方便于多人觀察，即使長時間觀察也不會引起眼部疲勞
5、大區(qū)域顯示樣本，方便比較礦物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、濃度及含量。進行構(gòu)造地質(zhì)學(xué)分析、粗粒巖和沉積學(xué)測試觀察。
6、采用高性能照明系統(tǒng)使得投影畫面更加清晰
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